LCP-27 অপবর্তন তীব্রতার পরিমাপ
পরীক্ষাগুলি
১. একক স্লিট, একাধিক স্লিট, সচ্ছিদ্র এবং বহু আয়তক্ষেত্রাকার অপবর্তন পরীক্ষায়, পরীক্ষামূলক অবস্থার সাথে অপবর্তন তীব্রতার পরিবর্তনের নিয়ম দেখা যায়।
২. একটি কম্পিউটার ব্যবহার করে একক স্লিটের আপেক্ষিক তীব্রতা এবং তীব্রতা বন্টন রেকর্ড করা হয়, এবং একক স্লিট ডিফ্র্যাকশনের প্রস্থ ব্যবহার করে একক স্লিটের প্রস্থ গণনা করা হয়।
৩. একাধিক স্লিট, আয়তাকার ছিদ্র এবং বৃত্তাকার ছিদ্রের অপবর্তনের তীব্রতা বন্টন পর্যবেক্ষণ করা।
৪. একক স্লিটের ফ্রনহফার অপবর্তন পর্যবেক্ষণ করতে
৫. আলোর তীব্রতার বন্টন নির্ধারণ করা
স্পেসিফিকেশন
| আইটেম | স্পেসিফিকেশন |
| হি-নে লেজার | >১.৫ মিলিওয়াট @ ৬৩২.৮ ন্যানোমিটার |
| একক-স্লিট | ০ ~ ২ মিমি (সমন্বয়যোগ্য), ০.০১ মিমি নির্ভুলতায় |
| চিত্র পরিমাপের পরিসর | ০.০৩ মিমি স্লিটের প্রস্থ, ০.০৬ মিমি স্লিটের ব্যবধান |
| প্রজেক্টিভ রেফারেন্স গ্রেটিং | ০.০৩ মিমি স্লিটের প্রস্থ, ০.০৬ মিমি স্লিটের ব্যবধান |
| সিসিডি সিস্টেম | ০.০৩ মিমি স্লিটের প্রস্থ, ০.০৬ মিমি স্লিটের ব্যবধান |
| ম্যাক্রো লেন্স | সিলিকন ফটোসেল |
| এসি পাওয়ার ভোল্টেজ | ২০০ মিমি |
| পরিমাপের নির্ভুলতা | ± ০.০১ মিমি |
আপনার বার্তাটি এখানে লিখে আমাদের কাছে পাঠিয়ে দিন।









