LEEM-16 অস্তরক ধ্রুবক যন্ত্রপাতি
প্রধান পরীক্ষামূলক বিষয়বস্তু
১. শূন্যস্থানের পরাবৈদ্যুতিক ভেদ্যতা e0 এবং আপেক্ষিক পরাবৈদ্যুতিক ভেদ্যতা er-এর পরিমাপ;
২. ক্ষুদ্র ধারকত্ব পরিমাপের জন্য এলসি রেজোন্যান্স পদ্ধতি শেখা;
৩. ডিজিটাল অসিলোস্কোপের ব্যবহার শেখা।
প্রধান প্রযুক্তিগত পরামিতি
| Deলিপি | স্পেসিফিকেশন |
| ডিডিএস সংকেত জেনারেটর | ৪.৩ ইঞ্চি এলসিডি ডিসপ্লে, সাইন ওয়েভ এবং স্কয়ার ওয়েভ ফ্রিকোয়েন্সি ১μhz ~ ১০mhz, সিগন্যাল অ্যামপ্লিচিউড ০ ~ ১০vp-p, ডিজিটাল কী এবং কোডিং সুইচ ব্যবহার করে ওয়েভফর্ম সিগন্যাল অফসেট ও ফেজ সেট এবং অ্যাডজাস্ট করা যায়। |
| স্ট্যান্ডার্ড রোধক | R1 = 1kω, নির্ভুলতা 0.5%। r2 = 30kω, নির্ভুলতা 0.1%। |
| স্ট্যান্ডার্ড ইন্ডাক্টর | L=১০.৫mh, নির্ভুলতা ০.৩% |
| টেস্ট প্লেটের স্পেসিফিকেশন | ২৯৭×৩০০ মিমি, অ্যাপারচার: Φ৪ মিমি, স্প্যান স্পেসিং: ১৯ মিমি, ৫০ মিমি এবং ১০০ মিমি, ইত্যাদি, কন্টাক্ট রেজিস্ট্যান্স ৫mω-এর কম, সর্বোচ্চ কারেন্ট ১০a, ডিস্ট্রিবিউটেড ক্যাপাসিট্যান্স ১.৫pf। |
| ডাইইলেকট্রিক শীট পরীক্ষা করা হবে | পিটিএফই এবং জৈব কাচ, φ৪০*২মিমি |
| পরীক্ষার সরঞ্জাম | ৪মিমি বানানা প্লাগ ক্যাবল, বিএনসি থেকে ৪মিমি বানানা প্লাগ ক্যাবল, টুথপিক, ইত্যাদি। |
| ভার্নিয়ার ক্যালিপার | ০-১৫০ মিমি/০.০২ মিমি |
| সর্পিল মাইক্রোমিটার | ০-২৫ মিমি/০.০১ মিমি |
| ডিজিটাল অসিলোস্কোপ | স্ব-প্রস্তুত |
আপনার বার্তাটি এখানে লিখে আমাদের কাছে পাঠিয়ে দিন।
