LEEM-3 বৈদ্যুতিক ক্ষেত্র ম্যাপিং যন্ত্র

সংক্ষিপ্ত বিবরণ:

প্রকৌশল প্রযুক্তিতে, তড়িৎ ক্ষেত্রে ইলেকট্রন বা আহিত কণার গতিবিধি অধ্যয়নের জন্য প্রায়শই ইলেকট্রোড সিস্টেমের তড়িৎ ক্ষেত্রের বিন্যাস জানা প্রয়োজন হয়। উদাহরণস্বরূপ, অসিলেস্কোপ টিউবে ইলেকট্রন রশ্মির ফোকাসিং এবং বিচ্যুতি অধ্যয়নের জন্য, টিউবের ইলেকট্রোডের তড়িৎ ক্ষেত্রের বিন্যাস জানা আবশ্যক। ইলেকট্রন টিউবে, ইলেকট্রনের গতিবিধির উপর নতুন ইলেকট্রোড সংযোজনের প্রভাব অধ্যয়নের জন্য, তড়িৎ ক্ষেত্রের বিন্যাস জানা প্রয়োজন। সাধারণত, তড়িৎ ক্ষেত্রের বিন্যাস নির্ণয়ের জন্য বিশ্লেষণাত্মক পদ্ধতি এবং সিমুলেশন পরীক্ষণ পদ্ধতি ব্যবহার করা যেতে পারে। কিন্তু শুধুমাত্র কয়েকটি সহজ ক্ষেত্রে বিশ্লেষণাত্মক পদ্ধতির মাধ্যমে তড়িৎ ক্ষেত্রের বিন্যাস নির্ণয় করা সম্ভব। সাধারণ বা জটিল ইলেকট্রোড সিস্টেমের জন্য, এটি সাধারণত সিমুলেশন পরীক্ষণের মাধ্যমে নির্ণয় করা হয়। সিমুলেশন পরীক্ষণ পদ্ধতির অসুবিধা হলো এর নির্ভুলতা বেশি নয়, তবে সাধারণ প্রকৌশল নকশার জন্য এটি প্রয়োজনীয়তা পূরণ করতে পারে।